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本可程式高低溫試驗(yàn)箱用于試驗(yàn)電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高、低的環(huán)境下存儲(chǔ)、運(yùn)輸和使用時(shí)的適用性試驗(yàn)，以評估產(chǎn)品的工作性能，適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)Z/AD 溫度循環(huán)試驗(yàn)方法

本杭州奧博可程式高低溫試驗(yàn)箱廠家適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)Z/AD 溫度循環(huán)試驗(yàn)方法：IEC60068，GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008，制作標(biāo)準(zhǔn)為GB/T5170.18-2005，GB/T10589（低溫試驗(yàn)箱技術(shù)）、GB/T11158（高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件）

本可程式高低溫試驗(yàn)箱廠家適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)Z/AD 溫度循環(huán)試驗(yàn)方法：IEC60068，GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008，制作標(biāo)準(zhǔn)為GB/T5170.18-2005，GB/T10589（低溫試驗(yàn)箱技術(shù)）、GB/T11158（高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件）